Новости компании
21.03.2025
«Активная Фотоника» представила линейку нанолабораторий на симпозиуме в Нижнем Новгороде
ООО «Активная Фотоника» выступила спонсором XXIX Симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» и представила сразу несколько ключевых решений для нанодиагностики: профилометр uSTEP 300, нанолабораторию NTEGRA Spectra, специализированный комплекс NTEGRA MFM и сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Prima.
13.03.2025
Лекция в Центре: Шеремет Евгения Сергеевна
Как исследовать химический состав на наномасштабе с помощью спектроскопии
27.02.2025
Лекция в Центре: Митько Татьяна Владимировна
Применение атомно-силовой микроскопии для исследования молекул биополимеров на примере ДНК и комплексов ДНК-белок
13.02.2025
Лекция в Центре: Толкач Никита Михайлович
Активные оптические элементы на основе тонкопленочных многослойных фазопеременных материалов для компонентной базы фотоники
05.02.2025
Победа в ИТМО: сотрудник Центра зондовой микроскопии стал лидером LIV конференции
Сотрудник Центра Зондовой Микроскопии Университета ИТМО Олег Новиков стал победителем Пятьдесят четвертой (LIV) научной и учебно-методической конференции ИТМО‑2025. Его работа посвящена синтезу микрочастиц серебра для Рамановской спектроскопии и исследованию образцов с помощью атомно-силовой микроскопии.
27.12.2024
С наступающим Новым Годом!
От лица руководства и сотрудников группы компаний «НТ-МДТ» поздравляем Вас с наступающим Новым Годом и Рождеством!
22.11.2024
«Активная Фотоника» представила NTEGRA Spectra на юбилейном семинаре по спектрометрии
ООО «Активная Фотоника» приняла участие в XXX научно-техническом семинаре «Спектрометрический анализ. Аппаратура и обработка данных», прошедшем 11–15 ноября 2024 года в Обнинске. Компания представила зондовую нанолабораторию NTEGRA Spectra и решения для неразрушающего анализа, а также выступила с докладом о современных методах зондовой микроскопии и оптической спектроскопии.
06.11.2024
Лекция в Центре: Наумов Андрей Витальевич
Флуоресцентная наноскопия: от детектирования одиночных молекул к биомедицине и квантовым технологиям
10.10.2024
Лекция в Центре: Тюлягин Петр Егорович
Вероятностно-статистический подход в измерении наношероховатости с помощью атомно-силовой и интерференционной микроскопии
08.10.2024
XVI Российская конференция по физике полупроводников (РКФП-XVI)
C 7 по 11 октября 2024 на базе Физико-технического института им. А.Ф. Иоффе и Академического университета им. Ж.И. Алферова прошла крупнейшая в России конференция, посвященная фундаментальным и прикладным проблемам современной физики и технологии полупроводников.